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簡要描述：高低溫溫度沖擊試驗箱（左右吊籃沖擊）：電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復測試。
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所屬分類：溫度沖擊試驗箱
產品時間：2026-01-20
高低溫溫度沖擊試驗箱（左右吊籃沖擊）：電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物理牲變化，測試其材料對高、低溫的反復測試。
一、型號：TSC-225PF-2P
二、沖擊溫度：-40~150
三、精度條件：高溫~低溫5分鐘內達到，9點溫度均勻度正負2度
高低溫溫度沖擊試驗箱（左右吊籃沖擊）
1)試驗樣品應按標準要求放置在試驗箱內,并將試驗箱(室)內溫度升到達點，保持一定的時間至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長都為準。
2)高溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節到-55℃的低溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長都為準。3)低溫階段結束后，在5min內將試驗樣品轉換到已調節到70℃的高溫試驗箱(室)內，保持1h或者直至試驗樣品達到溫度穩定，以時間長都為準。
4、重復上述實驗方法,以完成三個循環周期。根據樣件大小與空間大小，時間可能會略有誤差。恢復：試驗樣品從試驗箱內取出后，應在正常的試驗大氣條件下進行恢復，直至試驗樣品達到溫度穩定。
5.后檢測：對照標準中的受損程度及其它方法進行檢測結果評定。
