實驗室科研可程式恒溫恒濕試驗箱 我司是專業(yè)的環(huán)境試驗設(shè)備研發(fā)生產(chǎn)基地，長期致力于高低溫、恒溫恒濕，冷熱沖擊等試驗箱的生產(chǎn)和設(shè)計。求購我司設(shè)備，技術(shù)更精密，價格更實惠。

  實驗室科研可程式恒溫恒濕試驗箱 

溫度范圍：-40℃ ～ 150℃
濕度范圍：20%～98%RH
溫度波動度：±0.5℃
溫度偏差：≤ ±2.0℃
濕度偏差：±2.5%RH
升溫時間：0→ 150℃ ≤ 20分鐘（約3℃/min）
降溫時間： 20→0℃ ≤20分鐘（約1℃/min）
恒溫低濕試驗箱的構(gòu)成
外殼材料:紋路處理不銹鋼 （ SUS304） 或優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板靜電噴塑
內(nèi)箱材料:不銹鋼板 （ SUS304）
隔熱材料:高密度聚氨酯泡沫 玻璃纖維
觀察窗:發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃
電纜孔：內(nèi)徑Φ50
加熱器：鎳鉻合金電加熱器
加濕器：不銹鋼電熱蒸汽發(fā)生方式之UL形加濕器
攪拌鼓風(fēng)機：離心風(fēng)機
馬達(dá)：冷凝器型
腳輪：帶制動的活動腳輪 4個
恒溫低濕試驗箱的制冷系統(tǒng)
制冷機：歐美*全封閉低噪音轉(zhuǎn)子式壓縮機
制冷劑：環(huán)保冷媒 R404

GB 10589-2008 《低溫試驗箱技術(shù)條件》

GB 11158-2008 《高溫試驗箱技術(shù)條件》

GB 10592-2008 《高低溫試驗箱技術(shù)條件》

GB2423.1-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法》

GB2423.2-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法》

GB2423.4-2008 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗Db:交變試驗方法》

GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 高溫低溫試驗導(dǎo)則》

GB2423.22-2008《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法》

GB/T5170.2-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備》

GB2423.3－2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;

GB2423.4－93試驗D《交變濕熱試驗方法》