2.接著將電子放入高低溫箱中，隨箱升溫至一定溫度(油壓報(bào)警器為110℃±2℃，氣壓報(bào)警器為55℃±2℃，真空度報(bào)警器為70℃±2℃)，保溫30min，在此狀態(tài)下按規(guī)定的方法進(jìn)行檢驗(yàn)，由此得出高溫與規(guī)定的環(huán)境條件下報(bào)警起始?jí)毫χ档牟钪怠?br/>

   3.然后將電子產(chǎn)品取出，在規(guī)定的環(huán)境條件下放置不少于4h，再按規(guī)定的方法進(jìn)行檢驗(yàn)。

二、低溫試驗(yàn)：

   1.先在規(guī)定的環(huán)境條件下檢測(cè)電子的報(bào)警起始?jí)毫χ怠?br/>

   2.接著將電子產(chǎn)品放入高低溫試驗(yàn)箱中，隨箱降溫至-10℃±3℃，保溫30 min，在此狀態(tài)下按規(guī)定的方法進(jìn)行檢驗(yàn)，由此得出低溫與規(guī)定的環(huán)境條件下報(bào)警起始?jí)毫χ档牟钪怠?br/>

   3.然后將電子產(chǎn)品取出，在規(guī)定的環(huán)境條件下放置不少于4h，再按規(guī)定的方法進(jìn)行檢驗(yàn)。

注意：對(duì)高、低溫狀態(tài)下壓力報(bào)警器的報(bào)警起始?jí)毫χ档臋z測(cè)，若試驗(yàn)設(shè)備不具備時(shí)，可將壓力報(bào)警器取出箱外測(cè)試，但不得超過(guò)2 min。